名古屋大学 分子・物質合成プラットフォーム

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紫外可視吸収分光装置 | 機種:Agilent社製 8453

[概要]

溶液、薄膜の吸収スペクトル測定ができます。偏光吸収スペクトルや温度制御、入射角可変の測定が行えます。分子・高分子の配向構造を吸収スペクトルによって、評価できます。

[主な仕様]
  • 薄膜 (5 ~ 250 ℃から)、溶液(0 ~ 100 ℃)のスペクトル測定が可能
  • 偏光吸収スペクトル、基板の回転アタッチメントにより分子・高分子膜の配向評価
  • 要相談(チルト測定)