[概要]

X線を試料に照射した際に発生する蛍光X線エネルギーを測定することによって試料中に存在するNa～Ｕまでの元素を分析、定量することができます。

[主な仕様]

• エネルギー分散型
• 最大出力：50W
• 二次ターゲット：Cu、Mo、Al、RX-9、Si
• 検出器：Silicon Drift Detector
• 試料サイズ：φ20